Wysłany dnia 2019-06-102020-05-11 przez Editor0Korelacja między czasem życia rekombinacji nośnej a spadkiem napięcia przewodzenia w diodach 4H-SiC PiN wrzesień, 2010 Korelacja między czasem życia rekombinacji nośnej a spadkiem napięcia przewodzenia w diodach 4H-SiC PiN